Rein optisches Image-Scanning-MikroskopDie Erfindung ermöglicht es, Image-Scanning-Mikroskopie (ISM) auf einfache Weise rein optisch durchzuführen. Das aufgenommene Bild muss nicht mehr aus vielen einzelnen Aufnahmen am Computer rekonstruiert werden, sondern entsteht direkt auf dem Kamerachip. Die Erfindung ist sowohl für konfokale Mikroskope als auch für die 2-Photonen-Mikroskopie geeignet. ProblemstellungImage-Scanning-Mikroskopie ist ein Verfahren, das in den letzten Jahren entwickelt wurde und die laterale Auflösung um etwa einen Faktor 1.6 im Vergleich zu konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopen (cLSM) verbessern kann. Das Verfahren basiert auf einem ähnlichen Prinzip wie die Auflösungsverbesserung durch strukturierte Beleuchtung. Der Nachteil von ISM bestand bislang darin, dass für jede Rasterposition des Anregungslasers ein Bild auf dem Kamerachip ausgelesen werden musste. Anschließend wurde aus diesen Aufnahmen das finale Bild errechnet. Zwar lieferte ISM so eine deutlich höhere Auflösung als cLSM Setups, war aber auch wesentlich langsamer. Einige neuere Entwicklungen haben gezeigt, dass es möglich ist ISM auch rein optisch durchzuführen (Optical Photon Reassignment - OPRA). Allerdings ist der apparative Aufwand von OPRA hoch und es ist schwierig, dies an bestehenden cLSM Setups nachzurüsten. Darüber hinaus sind bisherige Ausführungsformen von rein optischen ISM Verfahren nur sehr bedingt für die 2-Photonen-Mikroskopie geeignet, da sich Anregungs- und Emissionslicht einen Strahlengang teilen - gegenwärtig sind aber Optiken, die sowohl für infrarotes als auch für sichtbares Licht optimiert sind, nicht verfügbar. Unsere Lösung
Das erfindungsgemäße ISM Verfahren vermeidet die dargestellten Nachteile, indem das vollständige Bild bereits auf dem Kamerachip erzeugt wird. Dadurch entfällt sowohl die computergestützte Rekonstruktion, als auch die Notwendigkeit den Kamerachip für jede Scanposition auszulesen. Das Verfahren ist dadurch deutlich schneller. Im Vergleich zu bisherigen, rein optischen Umsetzungen der ISM-Grundidee, wird ISM hier verwirklicht, indem der Abstand zwischen zwei Scanpositionen auf dem Kamerachip verdoppelt wird. Es reicht daher aus, das Emissionslicht ein zweites Mal mit einem weiteren Scanspiegel unter dem doppelten Winkel abzulenken. Es ist aber sogar möglich auf diesen zweiten Scanspiegel zu verzichten und für die zusätzliche Ablenkung den ursprünglichen Scanspiegel zu nutzen, beispielsweise indem der Ausbreitungswinkel des Emissionslichtes mit Hilfe einer 2f-Optik umgekehrt wird. Dadurch kann das Verfahren mit einem Minimum an zusätzlichen optischen Komponenten (Strahlteiler und zwei Linsen) realisiert werden. Es ist somit ideal geeignet um bestehende cLSM Setups auf einfache Weise zu ergänzen. VorteileZusätzlich zu der für ISM typischen Auflösungsverbesserung um den Faktor 1.6, die erzielt wird ohne weitere Einschränkungen des Setups, etwa auf bestimmte Fluorophore, bietet das hier vorgestellte Verfahren folgende Vorteile:
AnwendungsbereicheHochauflösende Fluoreszenzmikroskopie. Sowohl als Ergänzung für konfokale Laser-Scanning-Mikroskope als auch für die 2-Photonen-Mikroskopie. Bestehende Systeme können leicht durch ein Umlenkmodul nachgerüstet werden. EntwicklungsstandSowohl ein 1-Photonen Aufbau als auch eine 2-Photonen Umsetzung wurden in der Arbeitsgruppe des Erfinders realisiert und zeigten die erwartete Auflösungsverbesserung.
PatentsituationDE Patent erteilt: DE102013017468B4 Patentinhaber: Georg-August-Universität Göttingen Stiftung Öffentlichen Rechts Weiterführende InformationenGrundlagen ISM: KontaktDr. Ireneusz Iwanowski |
